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您的位置：網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > 電子元器件模擬環(huán)境高低溫濕熱實驗 PROUCTS LIST
實驗樣品：電子元器件
測試設(shè)備：高低溫濕熱實驗
試驗條件：雙85高溫高濕，溫濕度交變，極限溫度使用
一、溫濕度交變實驗
在正常環(huán)境溫度下，將電子元器件放進(jìn)高低濕熱實驗中，調(diào)節(jié)溫度，-30℃~70℃，60~90%高低溫度點(diǎn)各保持30min，溫度升降變化率不低于1-1.2℃/min，進(jìn)行200個循環(huán)（一個溫濕度過程為一個循環(huán)）。
二、雙85高溫高濕
在濕度85%、環(huán)境溫度85℃的高低溫濕熱實驗中，在額定電壓下通電，處于待機(jī)狀態(tài)，試驗時間240h，控制器應(yīng)無異常，試驗完成后，在常溫下恢復(fù)4h后能正常工作，不能出現(xiàn)規(guī)定功能的喪失。
三、極限溫度使用
將整個電子元器件放置在極限環(huán)境下，電子元器件應(yīng)能帶載連續(xù)正常工作8h。然后將整個電子無器件放置在極限的環(huán)境下，電子元器件應(yīng)能帶載連續(xù)正常工作8h。
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